Willkommen zur Embedded Testing 2024

28. August 2023: Die Webseite zur Embedded Testing ist fertig gestellt und erste Gespräche mit potentiellen Speakern, Sponsoren und Teilnehmenden laufen. Der Call for Papers ist eröffnet und läuft noch bis zum 12. November 2023.

08. November 2023: In vier Tagen endet der Call for Papers zur Embedded Testing

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News zur Embedded Testing 2024

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Agenda Tag 1

Embedded Testing 2025

Dienstag, 25. Februar 2025

08:00 bis 09:00, Foyer

Begrüßungskaffee und Registrierung

09:00 bis 09:15, Kopernikus 3

Konferenzeröffnung

09:15 bis 10:15, Kopernikus 3

Eröffnungskeynote: Dr. Elmar Jürgens: Test Intelligence: Wie finden wir schneller mehr Fehler in unserem Embedded System?

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10:15 bis 11:15, Kopernikus 3

Keynote: Prof. Dr. Christof Ebert: Advances in Security Testing

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11:15 bis 11:45, Foyer und Einstein 1 und 2

Kaffeepause und Besuch der Ausstellung

11:45 bis 12:30, Raum: Kopernikus 3

Adam Mackay: AI in Safety-Critical Testing: Bridging Theory and Practice – A Framework for Integration with Traditional Test Methodologies

11:45 bis 12:30, Raum: Kopernikus 2

Thomas Schütz: Varianten und Produktlinien für Embedded Systeme testen

11:45 bis 12:30, Raum Kopernikus 1

Jan Diesing: Optimierung der Hardware-Software-Integration: Schlanke Lösung für Testautomatisierung

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12:30 bis 13:30, Raum: Foyer und Einstein 1 und 2: 

Mittagspause und Besuch der Ausstellung

13:30 bis 14:15, Raum: Kopernikus 3

13:30 bis 14:15, Raum: Kopernikus 2

13:30 bis 15:10, Raum: Kopernikus 1

Dr. Daniel Kästner: Nachweis der Wechselwirkungsfreiheit in C/C++-Programmen

Paul Tybura: Erfahrungsbericht: Übergang vom Reverse Engineering zu Forward Development

Thomas Schütz: 100 Minuten Intensiv Coaching: Testautomatisierung für Embedded Systeme über alle Ebenen

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14:25 bis 15:10, Raum: Kopernikus 3

14:25 bis 15:10, Raum: Kopernikus 2

seit 13:45 bis 15:10, Raum: Kopernikus 1

Daniel Penning: Agiles Testen für Mikrocontroller-Projekte

Ingo Nickles: Artgerechte Haltung, Aufzucht und Hege der technischen Schuld

Thomas Schütz: 100 Minuten Intensiv Coaching: Testautomatisierung für Embedded Systeme über alle Ebenen

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15:10 bis 15:40, Raum: Foyer und Einstein 1 und 2

Kaffeepause und Besuch der Ausstellung

15:40 bis 16:25, Raum: Kopernikus 3

15:40 bis 16:25, Raum: Kopernikus 2

15:40 bis 16:25, Raum: Kopernikus 1

Michael Wittner: Security im Variantenwald: Wie die Hyper-Coverage versteckten Code aufdeckt

Royd Lüdtke und Artur Hirsch: In der Ruhe liegt die Kraft – Statische Performance Optimierung

Dr. Jörg Herter: 100 Minuten Kurzworkshop: Sichere und zuverlässige Software durch statische Taint-Analyse: Der Schlüssel zu Safety und Security

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16:35 bis 17:20, Raum: Kopernikus 3

16:35 bis 17:20, Raum: Kopernikus 2

seit 15:45 bis 17:20, Raum: Kopernikus 1

Kathrin Löffel und David Lang: Effiziente On-Target-Coveragemessung mit Testwell CTC++ – Erfahrungsbericht aus einer embedded Produktentwicklung

Martin Heininger: KI-Copiloten: Showeffekte oder echte Unterstützung im Requirements- und Test Engineering?

Fortsetzung: Dr. Jörg Herter: 100 Minuten Kurzworkshop: Sichere und zuverlässige Software durch statische Taint-Analyse: Der Schlüssel zu Safety und Security

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17:30 bis 18:15, Raum: Kopernikus 3

17:30 bis 18:15, Raum: Kopernikus 2

17:30 bis 18:15, Raum: Kopernikus 1

Dr. Richard Kölbl: Impulsvortrag: „KI-unterstütztes Testen im Embedded-Bereich“

Bernd Kettlein: Automatisiertes Testing mit konfigurierbaren Lasten

Vardhan Gunna: Threat modelling / TARA und Fuzztesting – Identifikation, Bewertung und Entdecken von Schwachstellen

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18:15 bis 19:30, Raum: Foyer und Einstein 1 und 2

Beginn der Abendveranstaltung in der Ausstellung

19:30 bis 20:30. Raum Kopernikus 3

Abendkeynote Georg Haupt: Noch viel zu Testen du hast – Ungewisser Blick in die Zukunft des Testens

Ein spannender, humorvoller und trotzdem tiefgründiger Einblick in die mögliche Zukunft des Testens.

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20:30 bis 23:00, Raum: Foyer und Einstein 1 und 2

Fortsetzung der Abendveranstaltung in der Ausstellung

Änderungen vorbehalten