Die heise-Konferenz für
Embedded-Entwickler und -Tester

Call for Papers

Teilen Sie Ihr Wissen. Gestalten Sie mit uns die Konferenz für Embedded-Entwickler und -Tester

Embedded Testing 2027 findet vom 23. – 24. Februar 2027 in München Unterhaching statt.

Sie vernetzt Expertinnen und Experten für die Qualitätssicherung von Embedded Systems. Tester, Entwickler sowie Team- und Projektverantwortliche diskutieren aktuelle Testverfahren, innovative Tools und Wege zu einer robusten Entwicklung eingebetteter Software.

Im Fokus stehen unter anderem Testautomatisierung, der Einsatz von KI im Softwaretest, MISRA, Hardware-in-the-Loop-Verfahren, Safety-Tests, agiles Testen sowie Unit- und Integrationstests. Darüber hinaus geht es um Normen, Vorgaben und bewährte Methoden, die gerade in sicherheitskritischen Branchen maßgeblich für die Produktzulassung sind – beispielsweise in der Medizin-, Automobil-, Luft- und Raumfahrt.

Für Embedded Testing 2027 suchen wir wissenschaftlich fundierte Vorträge, die aktuelle Entwicklungen und neue Denkimpulse vermitteln und den fachlichen Austausch in der Community stärken.

Der Call for Paper läuft bis 29. November 2026. Wir freuen uns auf Ihre Einreichungen.

Speaker der Embedded Testing 2027 erhalten freien Eintritt an allen Konferenztagen.

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